Метрики покрытия модели требований
Метрикой покрытия модели требований A = ( V, X, Y, E ) называется конечное множество подмножеств переходов модели требований M
Будем говорить, что тест { ( vi, xi, yi, v'i ) } покрыл элемент покрытия Cj
Таким образом, метрика покрытия определяет конечный набор элементов, в терминах которых осуществляется оценка качества тестирования. В технологии UniTesK некоторые метрики генерируются автоматически на основе структуры постусловий интерфейсных функций. В дополнение к этим метрикам, разработчик тестов может определять свои собственные метрики покрытия. Тестовая система автоматически оценивает качество тестирования в терминах всех доступных метрик и по результатам теста генерирует отчеты о покрытии элементов каждой метрики.
Метрика покрытия M называется управляемой, если для любых двух взаимодействий I1 = ( v1, x1, y1, v'1 ) и I2 = ( v2, x2, y2, v'2 ) выполнено следующее утверждение: (v1 = v2)
Для управляемых метрик характерно то, что принадлежность взаимодействия к тому или иному элементу покрытия зависит только от той части взаимодействия, которая управляется тестовой системой, то есть от пресостояния и стимула. Работая с управляемыми метриками, тестовая система может не только автоматически подсчитывать их покрытие, но и оптимизировать генерацию тестовых данных для достижения определенного покрытия по некоторой управляемой метрике.
